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【48812】主板驱动老化测验房的测验流程
主板驱动老化测验房能够模仿低温、高温的老化试验,让产品在此环境中接上模仿负载通电运作,测验时刻可在0-99.9小时内恣意设定,经过此测验程序可查出不良品或不良零件。主板驱动老化测验的测验流程怎么做呢,下面,咱们来看看主板驱动老化测验办法。
模仿量输入/输出模块:查看模仿量输入操控单元和数字量输出操控单元的衔接和功用。
将待测主板放入老化测验房中,衔接供电模块和电流检测模块。操控模块上电初始化,收集电流传感器的初始值,并将初值保存记载。
开端对多路电流值进行轮番扫描采样,将采样值与初值作比较,判别是否有测验回路接通,以此辨认是否上电成功。假如上电成功,则操控对应的LED指示灯常亮呼应。
在履行老化测验时,例如补光灯、加热电阻、电机转向等功用的敞开和封闭测验,能够终究靠本施行例中的检测体系对各路电流值进行分时、区间采样,经过现有的剖析方法办法来剖析区间电流的动摇,判别老化测验是否正常。
假如在老化测验过程中呈现不正常的状况,例如电流值超越预设阈值或电流动摇过大等,则判别为老化失效。此刻,对应LED指示灯闪耀指示,并记载该主板的老化测验时长等信息。
以上五个过程为主板驱动老化测验房的大致测验流程,如有其他运用疑问,能够拜访“环仪仪器”官网,咨询相关技术人员。
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